Domaine d'excellence
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- Microscopie électronique (MEB, TEM) - Quantification chimique (XPS, SIMS, EDS) |
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MOTS CLÉS |
CONTACTS |
Spectroscopie, FTIR, caractérisation de couches minces, vanadium, caméra thermique FLIR, régulation thermique, furtivité, solaire, pérovskite, VO2, couches minces, pvd, pulvérisation cathodique, solaire thermique, optique, thermochromie, couche thermochrome
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