Les pages du site TTO dédiées aux entreprises sont également disponibles sur le site de l'Institut Jean Lamour où vous trouverez un onglet intitulé "offres entreprises"
Identification de la structure cristalline (DRX, MET)
Détermination de la taille des grains (MET, MEB, DRX)
Analyse de contrainte résiduelle (DRX)
Identification et quantification des éléments chimiques par spectroscopie de pertes d’énergie (TEM/STEM -EELS) et par spectroscopie par dispersion d’énergies des photons X (STEM-EDS)
Analyse de la morphologie (MEB, DRX)
Détermination des épaisseurs, de la rugosité des couches (MEB, DRX)
Mesure du profil de concentration en fonction de la profondeur (SIMS)
Détermination de la valence (Mössbauer)
Image de surface (MEB) :
- Image topographique (SE)
- Image chimique (BSE)
Imagerie haute résolution en TEM/STEM avec une résolution de 0,12 nm en TEM et 0,08 nm en STEM
Imagerie conventionnelle en TEM (BF, DF)
Diffraction électronique en TEM
Cartographie X (EDS) en mode STEM
Tomographie X : image 3D (DRX)
ÉCHANTILLON
OPTIONS
Poudre
Massif
Film mince
Nanoparticules
Organique / Inorganique
Isolant / Conducteur
Monocristal / Polycristal
Analyse sous différentes atmosphères contrôlées : neutre, réductrice ou oxydante (DRX)
Analyse en fonction de la température entre 10 K et 2573 K (DRX)
Porte objet pour expérimentation in-situ (TEM) : - Chauffant jusqu’à 1000°C - Cryogénique jusqu’à 77K
