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Caractérisation structurale et microstructurale

 

Domaines d'excellence

 

Caractérisation structurale et microstructurale

 

 

 

 

ANALYSES

 IMAGERIE

  • Identification des phases cristallines (DRX, MET)
  • Identification de la structure cristalline (DRX, MET)
  • Détermination de la taille des grains (MET, MEB, DRX)
  • Analyse de contrainte résiduelle (DRX)
  • Identification et quantification des éléments chimiques par spectroscopie de pertes d’énergie (TEM/STEM -EELS) et par spectroscopie par dispersion d’énergies des photons X (STEM-EDS)
  • Analyse de la morphologie (MEB, DRX)
  • Détermination des épaisseurs, de la rugosité des couches (MEB, DRX)
  • Mesure du profil de concentration en fonction de la profondeur (SIMS)
  • Détermination de la valence (Mössbauer)
  • Image de surface (MEB) :
          - Image topographique (SE)
          - Image chimique (BSE)
  • Imagerie haute résolution en TEM/STEM avec une résolution de 0,12 nm en TEM et 0,08 nm en STEM
  • Imagerie conventionnelle en TEM (BF, DF)
  • Diffraction électronique en TEM
  • Cartographie X (EDS) en mode STEM
  • Tomographie X : image 3D (DRX)

ÉCHANTILLON

OPTIONS

  • Poudre
  • Massif
  • Film mince
  • Nanoparticules
  • Organique / Inorganique
  • Isolant / Conducteur
  • Monocristal / Polycristal
  • Analyse sous différentes atmosphères contrôlées : neutre, réductrice ou oxydante (DRX)
  • Analyse en fonction de la température entre 10 K et 2573 K (DRX)
  • Porte objet pour expérimentation in-situ (TEM) :   
        - Chauffant jusqu’à 1000°C
        - Cryogénique jusqu’à 77K 

 MOTS CLÉS

 CONTACTS

  • DRX, MEB, TEM, STEM, SIMS, EDS, EELS, tomographie, structure cristalline, cartographie X, Mössbauer

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