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Domaines d'excellence
Microscopie (MEB, MEB-FIB, MET) , Microsonde de Castaing, SIMS
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VOS BESOINS
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D'AUTRES COMPÉTENCES PROCHES
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- Des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques d'analyse de structure et/ou microstructure.
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| NOS SOLUTIONS |
NOS RÉFÉRENCES
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Caractérisation des matériaux par différentes techniques de microscopies électroniques et de microanalyses (MET, MEB, microsonde et SIMS)
- Préparation des lames minces par faisceau d'ions focalisé (FIB)
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Caractérisation des matériaux à différentes échelles allant de quelques dixièmes de nanomètre à quelques centaines de micromètres selon les techniques mises en œuvre,
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Analyses qualitatives et quantitatives de la composition des matériaux,
- 2 Microscopes Electroniques à Transmission
- 2 Microscopes Electroniques à Balayage
- 1 Microscope Electronique à Balayage avec faisceau d'ions focalisé
- 1 Microsonde Electronique de Castaing
- 1 Spectromètre de Masse d’Ions Secondaires
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MOTS CLÉS
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CONTACTS
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MEB, MEB-FIB, MET, microscopie, SIMS
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