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MICROSCOPIE ELECTRONIQUE /FIB (sonde ionqiue focalisée) /MICROSONDE /SIMS

 

Domaines d'excellence

Microscopie (MEB, MEB-FIB, MET) , Microsonde de Castaing, SIMS

 
 

VOS BESOINS

D'AUTRES COMPÉTENCES PROCHES
  • Des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques d'analyse de structure et/ou microstructure.

 
NOS SOLUTIONS

NOS RÉFÉRENCES

  • Caractérisation des matériaux par différentes techniques de microscopies électroniques et de microanalyses (MET, MEB, microsonde et SIMS)

  • Préparation des lames minces par faisceau d'ions focalisé (FIB)

  • Caractérisation des matériaux à différentes échelles allant de quelques dixièmes de nanomètre à quelques centaines de micromètres selon les techniques mises en œuvre,

  • Analyses qualitatives et quantitatives de la composition des matériaux,

  • 2 Microscopes Electroniques à Transmission
  • 2 Microscopes Electroniques à Balayage
  • 1 Microscope Electronique à Balayage avec faisceau d'ions focalisé
  • 1 Microsonde Electronique de Castaing
  • 1 Spectromètre de Masse d’Ions Secondaires

 

 

 

MOTS CLÉS

CONTACTS

MEB, MEB-FIB, MET, microscopie, SIMS

 

 

 

 

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